PC片材之PET聚酯薄膜厚度测量方案

PET聚酯薄膜在当今微电子薄膜、光学薄膜、抗氧化薄膜、巨磁电阻薄膜、电声薄膜、高温超导薄膜等领域应用越来越广泛。工业应用中的PET聚酯薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜，电路集成程度的不断提高，薄膜厚度的任何微小变化，对集成电路的性能都会产生直接的影响。
除此之外，PET聚酯薄膜力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的联系。
在人们对能精确测量薄膜厚度方法的迫切需求下，相应地，产生了许多测量薄膜厚度的方案。在日常要求不是很严格的条件一般采用游标卡尺一工具来测试PET薄膜的厚度；而在需要高精密度的情况下现在则采用光学方法，它相对于其它类方法具有快速、准确和不损伤薄膜等优点。综观当前众多流行的分类方式，按照测量方法所依据的光学原理进行分类zui具代表性，可分为干涉、衍射、透射、反射、偏振等。
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